推定故障率 : FIT値/MTTF（電子デバイス製品）
推定故障率 : FIT値/MTTF（電子デバイス製品）
推定故障率 (FIT値) / 平均故障時間 (MTTF)
| 種類 | 推定故障率 | 平均故障時間 (MTTF) |
信頼性水準 | 総試験数×時間 (コンポーネントアワー) |
故障数 | 試験温度 | 使用温度 | 活性化 エネルギー |
温度 加速率 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| CMOS IC | 1 FIT | 1.00×109時間 | 60% | 1.70×107 | 0個 | 125°C | 60°C | 0.7eV | 53.7倍 |
| Bi-CMOS IC | 1 FIT | 0.97×109時間 | 60% | 1.65×107 | 0個 | 125°C | 60°C | 0.7eV | 53.7倍 |
| Bipolar IC | 1 FIT | 1.00×109時間 | 60% | 3.20×106 | 0個 | 125°C | 60°C | 1.0eV | 296倍 |
| GaAs IC | 6 FIT | 1.67×108時間 | 60% | 5.30×105 | 0個 | 125°C | 60°C | 1.0eV | 296倍 |
| オプトデバイス | 3 FIT | 3.33×108時間 | 60% | 7.20×105 | 0個 | 100°C | 40°C | 1.0eV | 389倍 |
- Rから始まる製品；CMOS IC
- NJU****製品；CMOS IC
- NJW****製品；Bi-CMOS IC
- NJM****製品；Bipolar IC
- NJG****製品；GaAs IC
- NJL****製品；オプトデバイス
- Nx****製品；データシートの概要欄に記載があります