推定故障率（電子デバイス製品）
推定故障率（電子デバイス製品）
推定故障率／平均故障時間（MTTF）
| 種類 | 推定故障率 | 平均故障時間（MTTF） | 信頼性水準 | 総試験数×時間 (コンポーネントアワー) |
故障数 | 試験温度 | 使用温度 | 活性化 エネルギー |
温度 加速率 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| CMOS IC | 1Fit | 1.00×10+9時間 | 60% | 1.70×10+7 | ０個 | 125℃ | 60℃ | 0.7eV | 53.7倍 |
| Bi-CMOS IC | 1Fit | 0.97×10+9時間 | 60% | 1.65×10+7 | ０個 | 125℃ | 60℃ | 0.7eV | 53.7倍 |
| Bipolar IC | 1Fit | 1.00×10+9時間 | 60% | 3.20×10+6 | ０個 | 125℃ | 60℃ | 1.0eV | 296倍 |
| GaAs IC | 6Fit | 1.67×10+8時間 | 60% | 5.30×10+5 | ０個 | 125℃ | 60℃ | 1.0eV | 296倍 |
| オプトデバイス | 3Fit | 3.33×10+8時間 | 60% | 7.20×10+5 | ０個 | 100℃ | 40℃ | 1.0eV | 389倍 |