推定故障率(電子デバイス製品)

推定故障率/平均故障時間(MTTF)

種類 推定故障率 平均故障時間(MTTF) 信頼性水準 総試験数×時間
(コンポーネントアワー)
故障数 試験温度 使用温度 活性化
エネルギー
温度
加速率
CMOS IC 1Fit 1.00×10+9時間 60% 1.70×10+7 0個 125℃ 60℃ 0.7eV 53.7倍
Bi-CMOS IC 1Fit 0.97×10+9時間 60% 1.65×10+7 0個 125℃ 60℃ 0.7eV 53.7倍
Bipolar IC 1Fit 1.00×10+9時間 60% 3.20×10+6 0個 125℃ 60℃ 1.0eV 296倍
GaAs IC 6Fit 1.67×10+8時間 60% 5.30×10+5 0個 125℃ 60℃ 1.0eV 296倍
オプトデバイス 3Fit 3.33×10+8時間 60% 7.20×10+5 0個 100℃ 40℃ 1.0eV 389倍