推定故障率 : FIT値/MTTF(電子デバイス製品)
推定故障率 : FIT値/MTTF(電子デバイス製品)
推定故障率 (FIT値) / 平均故障時間 (MTTF)
種類 | 推定故障率 | 平均故障時間 (MTTF) |
信頼性水準 | 総試験数×時間 (コンポーネントアワー) |
故障数 | 試験温度 | 使用温度 | 活性化 エネルギー |
温度 加速率 |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
CMOS IC | 1Fit | 1.00×10+9時間 | 60% | 1.70×10+7 | 0個 | 125℃ | 60℃ | 0.7eV | 53.7倍 |
Bi-CMOS IC | 1Fit | 0.97×10+9時間 | 60% | 1.65×10+7 | 0個 | 125℃ | 60℃ | 0.7eV | 53.7倍 |
Bipolar IC | 1Fit | 1.00×10+9時間 | 60% | 3.20×10+6 | 0個 | 125℃ | 60℃ | 1.0eV | 296倍 |
GaAs IC | 6Fit | 1.67×10+8時間 | 60% | 5.30×10+5 | 0個 | 125℃ | 60℃ | 1.0eV | 296倍 |
オプトデバイス | 3Fit | 3.33×10+8時間 | 60% | 7.20×10+5 | 0個 | 100℃ | 40℃ | 1.0eV | 389倍 |